Преимущества кремниевой технологии.
Требования к кремнию
как материалу
для микроэлектронной промышленности

Полупроводниковая технология начала свое становление с 1946 года, когда Бардин и Шокли изобрели биполярный транзистор. На первом этапе развития микроэлектронного производства в качестве исходного материала использовался германий. В настоящее время 98% от общего числа интегральных схем изготавливаются на основе кремния.

Кремниевые полупроводниковые приборы по сравнению с германиевыми имеют ряд преимуществ:

Вышеперечисленные преимущества кремниевой технологии имеют место в связи со следующими его особенностями:

Слитки поликристаллического кремнияИсходным сырьем для микроэлектронной промышленности является электронный поликристаллический кремний, из которого затем получают монокристаллические слитки, обладающие необходимыми электрофизическими свойствами. После проведения подготовительных технологических циклов (механической обработки слитков, подготовки основных и дополнительных базовых срезов, резки слитка кремния на пластины, травления поверхности и полировки) он должен обладать следующими свойствами:


Готовые кремниевые пластиныВ окончательном виде кремний представляет собой зеркально отполированную с одной стороны монокристаллическую пластину диаметром 15 - 40 см, толщиной 0.5 - 0.6 мм с различной ориентацией поверхности. Дополнительный и основные срезы сделаны для более легкого распознавания пластин с разным типом проводимости и ориентацией поверхности.




Справка: Физические свойства германия и кремния.

ПараметрыГерманийКремний
Атомный номер3214
Атомная масса72,5828,08
Постоянная решетки, нм0,56470,5430
Кристаллическая структураГранецентри-
рованная
Кубическая (типа алмаза)
ЦветСеребристыйСерый
Количество атомов в 1 см34,52·10224,99·1022
Плотность при 298 К, г/см35,322,331
Твердость по шкале Мооса6,257,0
КовкостьХрупкийХрупкий
Диэлектрическая проницаемость e1612
Показатель преломления света на дине волны 3...6 мкм4,068...4,1433,42
Работа выхода электронов, эВ4,784,8
Ширина запрещенной зоны DE при 298 К, эВ0,7441,153
Температура плавления, °C9401415
Температура кипения, °C27002600
Скрытая теплота плавления, кДж/моль33,7±0,845,5±0,8
Скрытая теплота парообразования, кДж/моль (при 1173 К)371±8440±50
Теплоемкость C, Дж/(моль·К), при температуре 90 К11,15,2
Теплоемкость C, Дж/(моль·К), при температуре 300 К22,819
Линейный коэффициент теплового расширения, К-1 в интервале температур 273...573 К6,1·10-64,2·10-6
Линейный коэффициент теплового расширения, К-1 в интервале температур 573...723 К6,6·10-64,2·10-6
Теплопроводность, Вт/(м·К) при 298 К58,3109
Удельное сопротивление при 298 К, Ом·см472·105
Концентрация электронов (дырок) при 300 К, см-31,95·10131,27·1010
Подвижность электронов (дырок) при 298 К, см2/(В·с)36001300
Коэффициент диффузии электронов при 298 К, см29330
Коэффициент диффузии дырок при 298 К, см24412
Магнитная восприимчивость-1,1·10-7-1,3·10-6
Энергия ионизации легирующих примесей E1, эВ0,010...0,0130,033...0,07